微少電流・高抵抗測定、部分放電試験のための環境

微少電流・高抵抗測定、部分放電試験のためのシールド環境

アプリケーション

高抵抗測定は2次電池や半導体で用いる電気絶縁材料、コンデンサやプリント基板などの電子部品、また各種合成樹脂やゴム材料など幅広い分野において、研究開発から製造、品質検査まで実施されます。

高電圧印加時の半導体素子のリーク電流などを、高感度・高精度に測定するには、誘導ノイズや静電結合、誤差電流を最小にするための配慮（EUTから測定器までを完全にシールドする）が必要です。

当社では様々なフィクスチャサイズに対応できるシールドボックスをご用意しています。

ソリューション

シールドボックス各種デモ機ご用意しております。

対象アプリケーション

• 材料化学（バイオマテリアル、セラミック、エラストマー、薄膜、誘電材料、電気化学、強誘電体、グラフェン、金属、有機材料、ナノマテリアル、ポリマー、半導体など）
• デバイス／電子コンポーネント（キャパシタ、抵抗、ダイオード、センサ、TFT／CNTなどのトランジスタ、光電子部品、太陽電池セルなど）
• 電子／非電子システム（イオン・ビーム、電子ビームなど）

システム構成・価格

シールドボックス ［MY1510N］	¥165,000
シールドボックス ［MY1520N］	¥348,000
シールドボックス ［MY1530N］	¥830,000
ピコアンメータ，エレクトロメータ	別途

※詳細は弊社営業担当までお問合せ下さい。

製品紹介